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TFT液晶面板经常会在出厂前用点灯检查来判断优劣,但是当将货交给客户后,随着时间会出现残影,亮度不均匀,Mura等不良现象,尽管一般认为其中一些不良现象是由于TFT元件和驱动电路引起的,但是经研究发现这些不良的发生也受到面板内杂质离子浓度的影响.杂质离子不仅会在面板制造过程中混入,而且随着时间的推移会从面板的外围材料中混入液晶层内。尤其是在高温、高湿度、紫外线等环境下使用会加速杂质离子的产生。另外,作为显示缺陷的另一个原因,也可能受到面板内DC偏压的影响,这是由面板驱动引起的。
LCM-3型测试仪是由我司和日本SHARP共同研发,可以在短时间内测出TFT液晶面板内的杂质离子和内部DC电压。

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LCM-3结构图

紧凑简洁的构造
高速测量(测量时间从几秒到3分钟以内)
测量TFT液晶面板内的微量杂质离子含量
测量TFT液晶面板内的DC电压
进行加速试验(改变测试条件)预测未来的显示缺陷
可以进行多通道测试并可以对面板内的各个区域进行测试