本设备可高精度检测OLED器件的产生电流时的电压和发光开始电压之间的差，开发人员可据此分析器件老化原因、预测器件寿命，尤其可检测到低辉度下的电压电流和辉度并解析低辉度Mura形成原因。

特点

  • DC-JVL的同步测量
  • 高的灵敏度和宽广的测量范围
  • 各种测量和分析
  • 位移电流和电流密度与电压的关系
  • 亮度与电压
  • 亮度与电流密度
  • 电流效率与电流密度
  • 电荷注入电压
  • OLED发光电压
  • 电荷注入电压和OLED发光电压之间的间隙测量
  • 无法使OLED发光的电荷量测量
  • 位移电流区的电阻和电容测量