东扬精测即将亮相DIC 2025国际显示技术展，诚邀莅临交流！

尊敬的客户及合作伙伴：

东扬精测系统（上海）有限公司将参展2025年DIC国际显示技术展览会（DIC EXPO 2025）。作为显示行业检测与测量技术的领先企业，我们期待与您共聚上海，探讨行业前沿技术，展示全新创新成果。

展会信息：
日期：2025年8月7日-9日
地点：上海新国际博览中心（展位号：1A69）

重点展示如下设备：
1、LCOS偏光特性分析仪

设备可用于检测硅基板上制作的反射型器件（LCOS）的偏光特性。
包括相位延迟Retardation  （A-plate模型）、光轴 Optic axis （设计轴 ±45°）、盒厚 Cell gap。

2、Axis Pro型 微观颗粒采样系统

在液晶面板制作过程中，液晶取向剂成膜时有可能混入微米级的杂质颗粒，这种杂质颗粒对液晶面板的显示效果有很大的品质影响。本设备可以从液晶取向膜层中取出微米直径的微颗粒，并放置于用户的红外、拉曼等分析设备的样品盘中。是液晶显示行业分析微颗粒来源的重要工具设备。

3、DCM-1000型 OLED位移电流（DC-JVL）测试系统

本设备可高精度检测OLED器件的产生电流时的电压和发光开始电压之间的差，开发人员可据此分析器件老化原因、预测器件寿命，尤其可检测到低辉度下的电压电流和辉度并解析低辉度Mura形成原因。

4、Gamma1拖4恒温台

Gamma1拖4恒温台专为LCD/OLED模组Gamma测试设计，支持1台主机同时控制4个测试位，实现高效批量检测。采用高精度恒温控制技术，确保测试环境稳定，提升数据一致性。适用于产线快速验证Gamma曲线、色温及亮度均匀性，优化显示效果校准。结构紧凑，操作简便，兼容多种尺寸面板，助力显示模组量产质量控制。

5、LCD/LCOS仿真计算软件

LCD/LCOS仿真计算软件可以对LCD的光学特性，例如：液晶分子指向、透过率、相位变化、偏光特性，以及LCOS的衍射效率、对比度、色彩等进行仿真计算。是LCD、LCOS研发的常用工具软件。

6、LCE-X型LCD材料特性测试系统

LCE-X型LCD材料特性测试系统是继6254型LCD材料测试系统和LCM-3A型TFT液晶面板测试系统的更新机种。可以测试电压保持率（VHR）、残留DC偏压（RDC）、离子密度（Ion Density）。并可配备DCV模组，用于测试实际面板。

7、OPTIPRO型液晶光学测试系统

OPTIPRO型液晶光学测试系统通过独特的光学原理和控制计算软件可对液晶盒进行一系列的光学测试，是液晶、取向剂开发的必备检测系统。测试功能包括.  相位延迟量、 盒厚、预倾角、扭曲角。

8、成像式应力测试仪

成像式应力测试仪可量测项目：相位差分布、光轴角度分布，应用领域包括玻璃制品、光学镜片等低相位差材料内应力测量。